主營產(chǎn)品：
本公司銷售keysight i1000d, i3070,spea4020,spea4060,spea3030,digital test mts-30,mts-180 mts-300,mts-888,seica flying test systems 德律tr518fe,tr518fR,tr518fv,tr518SII,tr8100,TRI5001T,TR5001SIIQDI tr8100LV 在線測試儀，星河src6001,src8001,星河src3001a,src3001,,foucs-2000,foucs-3000,foucs-4000,hioki,jet3000 泰瑞達(dá)18,
新聞詳情
ict的測試
日期：2025-05-01 18:58
瀏覽次數(shù)：366
摘要：
ict的測試
ict，In-Circuit Test，是通過對在線元器件的電性能及電氣連接進(jìn)行測試來檢查生產(chǎn)制造缺陷及元器件**的一種標(biāo)準(zhǔn)測試手段。它主要檢查在線的單個元器件以及各電路網(wǎng)絡(luò)的開、短路情況，具有操作簡單、快捷迅速、故障定位準(zhǔn)確等特點。 是一種元器件級的測試方法用來測試裝配后的電路板上的每個元器件
ict，In-Circuit Test，是通過對在線元器件的電性能及電氣連接進(jìn)行測試來檢查生產(chǎn)制造缺陷及元器件**的一種標(biāo)準(zhǔn)測試手段。它主要檢查在線的單個元器件以及各電路網(wǎng)絡(luò)的開、短路情況，具有操作簡單、快捷迅速、故障定位準(zhǔn)確等特點。 是一種元器件級的測試方法用來測試裝配后的電路板上的每個元器件
ict基本只進(jìn)行靜態(tài)的測試，優(yōu)點是不需制作夾具，程序開發(fā)時間短。
針床式ICT可進(jìn)行模擬器件功能和數(shù)字器件邏輯功能測試，故障覆蓋率高，但對每種單板需制作專用的針床夾具，夾具制作和程序開發(fā)周期長。
IC的測試
對數(shù)字IC，采用Vector（向量）測試。向量測試類似于真值表測量，激勵輸入向量，測量輸出向量，通過實際邏輯功能測試判斷器件的好壞。
如:與非門的測試
對模擬IC的測試，可根據(jù)IC實際功能激勵電壓、電流，測量對應(yīng)輸出，當(dāng)作功能塊測試。