1.元器件**

測(cè)試值偏差超差比較小，則可能原因：

1）器件本身的偏差就這么大；

2）測(cè)試針的接觸電阻較大；

3）錯(cuò)件、焊接**、反裝；

2.開(kāi)路**（常由探針接觸**所致）

開(kāi)路**只針對(duì)某一短路群而言，例如：有短路群：【1,4,10,12】，ICT測(cè)試出1,10開(kāi)路**，表示PCB上測(cè)試點(diǎn)1與測(cè)試點(diǎn)10之間電阻大于55Ω（或55-85Ω），可以用萬(wàn)用表在PCB上的測(cè)試點(diǎn)上進(jìn)行驗(yàn)證；可能原因如下：

1）測(cè)試針壞掉，或針形與待測(cè)板上的測(cè)試點(diǎn)不適合：

2）測(cè)試點(diǎn)上有松香等絕緣物品；

3）某一元器件漏裝、焊接**、錯(cuò)件等；

4）繼電器、開(kāi)關(guān)或變阻器的位置有變化；

5）PCB上銅箔斷裂，或Via Hloe與銅箔之間open。

3.短路**（短路**要**優(yōu)先處理，而開(kāi)路**常因探針接觸**所致）

      短路**指兩個(gè)（不在同一短路群內(nèi)，即本來(lái)應(yīng)該大于25Ω（或25-55Ω）的電阻小于5Ω（或5-15Ω），可以用萬(wàn)用表在PCB上的測(cè)試點(diǎn)上進(jìn)行驗(yàn)證；可能原因如下：

1）連焊（應(yīng)該在兩個(gè)NET相關(guān)的焊接點(diǎn)上尋找）；

2）錯(cuò)件，多裝器件；

3）繼電器、開(kāi)關(guān)或變阻器的位置有變化；

4）測(cè)試針接觸到別的器件；

5）PCB上銅箔之間短路；

4.測(cè)試值偏差超差較大，則可能原因如下：

1）器件壞掉；

2）IC此腳的內(nèi)部**（可能性極少）。

5.其他

當(dāng)R、L測(cè)試值偏差為99.99%，D、Q測(cè)試值為2V左右及電容測(cè)試值為0時(shí)，并且?guī)讉€(gè)器件均有同一測(cè)試針時(shí)，可能原因：該測(cè)試針壞掉，或測(cè)試點(diǎn)接觸**，或PCB上銅箔斷裂，或Via Hole與銅箔之間open。

·短路與IC錯(cuò)件、反裝會(huì)引起大片**，應(yīng)優(yōu)先考慮。

·以上**用萬(wàn)用表檢查是，請(qǐng)將萬(wàn)用表的針?lè)旁跍y(cè)點(diǎn)處，而不是放在器件的兩端。