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ICT、AOI、FCT(AET)測(cè)試設(shè)備有什么區(qū)別？
日期：2025-07-04 19:34
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摘要：
（1） ICT和AOI的區(qū)別？
ICT是依靠電路的電子元件電氣特性進(jìn)行檢查，通過(guò)實(shí)際的電流，電壓，波形頻率，檢測(cè)出電子元件與電路板線(xiàn)路的物理特性。
AOI是基于光學(xué)原理來(lái)對(duì)焊接生產(chǎn)中遇到的常見(jiàn)缺陷進(jìn)行檢測(cè)的設(shè)備，通過(guò)光學(xué)對(duì)電路板元件的外觀圖形檢測(cè)，如元件絲印對(duì)元件值大小判斷，焊盤(pán)的焊錫連錫對(duì)電路的開(kāi)短路進(jìn)行判斷。
可以說(shuō)，AOI能檢查出來(lái)的電路板問(wèn)題，ICT能夠檢查出來(lái)，但I(xiàn)CT能夠檢查出來(lái)問(wèn)題，AOI不一定能檢查出來(lái)。
（2） ICT和FCT(AET)的區(qū)別？
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（1） ICT和AOI的區(qū)別？
ICT是依靠電路的電子元件電氣特性進(jìn)行檢查，通過(guò)實(shí)際的電流，電壓，波形頻率，檢測(cè)出電子元件與電路板線(xiàn)路的物理特性。
AOI是基于光學(xué)原理來(lái)對(duì)焊接生產(chǎn)中遇到的常見(jiàn)缺陷進(jìn)行檢測(cè)的設(shè)備，通過(guò)光學(xué)對(duì)電路板元件的外觀圖形檢測(cè)，如元件絲印對(duì)元件值大小判斷，焊盤(pán)的焊錫連錫對(duì)電路的開(kāi)短路進(jìn)行判斷。
可以說(shuō)，AOI能檢查出來(lái)的電路板問(wèn)題，ICT能夠檢查出來(lái)，但ICT能夠檢查出來(lái)問(wèn)題，AOI不一定能檢查出來(lái)。
（2） ICT和FCT(AET)的區(qū)別？
ICT主要是靜態(tài)的測(cè)試，針對(duì)的是電路板單個(gè)元件的電氣性能參數(shù)進(jìn)行測(cè)試，測(cè)試源提供的信號(hào)電壓低，電流小。
FCT(AET)測(cè)試，提供電源后。對(duì)單個(gè)元件，電路板，系統(tǒng)，模擬正常使用的條件下，功能作用檢查，如，電路板在正常工作時(shí)的工作的電壓，工作電流，待機(jī)功率，存儲(chǔ)芯片上電后是不是能夠正常讀寫(xiě)，電機(jī)上電后的轉(zhuǎn)速，繼電器上電后的通道端導(dǎo)通電阻等。如充電器的*大帶載電流，電壓紋波等。